材料分析测试技术——材料X射线衍射与电子显微分析

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书名：材料分析测试技术——材料X射线衍射与电子显微分析
作者: 周玉
ISBN: 9787560313382
页数: 283
定价: 19.8
出版社: 哈尔滨工业大学出版社
装帧: 平装
出版年: 1998-8-1

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简介 · · · · · ·
　　本书介绍了用x射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。内容包括：x射线衍射方向与强度、多晶体分析方法及x射线衍射仪、物相分析、宏观应力测定、透射电镜结构与原理、复型技术、电子衍射、衍衬成像、扫描电镜结构与原理、电子探针显微分析等。同时，简要介绍了离子探针、低能电子衍射、俄歇电子能谱仪、扫描隧道与原子力显微镜及x射线光电子能谱仪等显微分析方法，并附有实验指导书和附录。书中的实例分析注重引入了材料微观组织结构分析方面的新成果。
　　 本书可作为材料科学与工程学科的本科生教材或教学参考书，也可供从事材料研究及分析检测方面工作的技术人员参考。