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X射线荧光光谱法测定含还原剂的炼钢辅料中化学成分

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    发表于 2014-12-25 14:38:46 | 显示全部楼层 |阅读模式

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    样品用碳酸锂和四硼酸锂混合熔剂在石墨垫底坩埚中经高温预氧化熔融后,再在铂一黄坩埚中用四硼酸锂高温熔制成玻璃熔片,用X射线荧光光谱分析方法测定了玻璃熔片的化学成分。研究了预氧化熔融的熔剂体系以及样品与熔剂的稀释比,探讨了灼烧减量的校正。用石灰石、炉渣、硅石、锰矿等标样合成具有浓度梯度的系列标准样品制作校准曲线,建立了含有金属等还原剂的炼钢辅料中氧化钙、氧化镁、二氧化硅、三氧化二铝、磷、氧化锰的X射线荧光光谱分析方法。对方法的精密度进行考察,相对标准偏差(RSD,n=10)在0.09%~1.5%之间。对方法的准确度进行验证,测定值与湿法分析值一致,t检验显示方法与湿法无显著性差异。

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